Software de DRX: XRDanalysis
Detalles de Producto
- Paquete de software versátil para el análisis de difracción de polvos
- Función de búsqueda/coincidencia para una identificación rápida y precisa de las fases
- Análisis de Rietveld utilizando fases emparejadas o cargadas manualmente
- Flujos de trabajo de análisis optimizados, incluido el análisis por lotes, para acelerar y simplificar sus tareas analíticas
XRDanalysis es un paquete de software de última generación para el análisis de datos de difracción de polvo en el XRDynamic 500 de Anton Paar. Permite realizar sin esfuerzo, el ajuste de perfiles, la identificación o cuantificación de fases y el análisis de microestructuras en datos recogidos tanto en condiciones ambientales como no ambientales. XRDanalysis cuenta con flujos de trabajo de análisis optimizados para diferentes tareas con el fin de ayudar a los usuarios que se inician en la XRD, a la vez que se mantiene la flexibilidad que exigen los usuarios más avanzados.
Características principales
Automatice sus análisis integrando múltiples tareas de análisis en un único flujo de trabajo
Realice el análisis de los datos de difracción de polvos de la forma que desee con un concepto de flujo de trabajo flexible que le permite combinar y ejecutar múltiples tareas con un solo clic. Desde la búsqueda de picos, el ajuste de perfiles, la identificación de fases, hasta el análisis Rietveld, todos los pasos pueden combinarse en un único flujo de trabajo para automatizar sus tareas de análisis. Para la evaluación de múltiples conjuntos de datos, también se puede realizar el procesamiento por lotes fácilmente, incluso con diferentes flujos de trabajo para diferentes conjuntos de datos, si se desea. Esto hace que el análisis XRD sea extremadamente fácil de aprender y utilizar por los usuarios menos experimentados, a la vez que ofrece la flexibilidad que necesitan los usuarios expertos.
Identificación avanzada de fases para no perder nunca ninguna.
Los algoritmos de búsqueda/coincidencia utilizados en el análisis XRD permiten la identificación de fases mediante la búsqueda en bases de datos de referencia como las bases de datos PDF del ICDD. Una vez añadidas las fases, se realiza una búsqueda residual avanzada que permite identificar incluso, las fracciones de fase más pequeñas. Además, la búsqueda residual también funciona cuando las fases se han cargado manualmente (por ejemplo, desde un CIF), por lo que no es necesario depender únicamente de las bases de datos de referencia durante la identificación de las mismas.
Cuantificación precisa de las fases, incluso de las fases menores
La opción de refinamiento Rietveld en el análisis XRD le permite realizar un análisis cuantitativo y estructural de fase que tiene en cuenta todos los efectos microestructurales del instrumento y de la muestra. El análisis de Rietveld puede realizarse en cualquier fase en la que se disponga de posiciones atómicas. Las fases pueden trasladarse directamente desde los resultados de la base de datos de referencia o añadidas manualmente desde los FIC; también son posibles combinaciones de fases de ambas fuentes. Los parámetros de fase refinados no sólo proporcionan las fracciones de fase, sino también parámetros microestructurales como el tamaño de los cristalitos y la deformación.
Informes personalizables
XRDanalysis permite exportar rápida y fácilmente los datos y gráficos de cada paso del análisis en el formato que usted elija. Incluyen una interfaz optimizada con los paquetes de Microsoft Office, la función de informes y exportación de datos permite una preparación óptima de los datos y gráficos para su publicación o para su posterior análisis fuera de la plataforma XRDanalysis.