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Dispositivo de prueba de nano-rayado: NST³

Detalles de Producto

El dispositivo de prueba de nano-rayado NST³ es especialmente adecuado para la caracterización práctica de fallas de adhesión de películas finas y revestimientos con un espesor típico de menos de 1000 nm. El NST³ se puede utilizar en el análisis de revestimientos orgánicos e inorgánicos, blandos y duros. El diseño exclusivo del cabezal de medición de nano-rayado incluye dos sensores para las mediciones de fuerza y profundidad asociadas con un actuador piezoeléctrico de vanguardia. Estas características únicas proporcionan un tiempo de respuesta rápido (de hasta milisegundos), gran precisión y gran flexibilidad para todo tipo de mediciones de rayado.

Combine cabezales de ensayo de indentación instrumentados con cabezales de ensayo de rayado, un nanotribómetro e incluso un microscopio de fuerza atómica en una plataforma de ensayo de superficies única de un paso.

Características principales

Acceso al panorama completo sincronizado para análisis cuando y donde quiera.

Esta funciónexclusiva sincroniza automáticamente la imagen panorámica de todo el rayado en un enfoque perfecto con datos de rayado de todos los sensores. Por lo tanto, puede realizar en cualquier momento análisis de cargas críticas basadas en observación panorámica y grabaciones de señales. Anton Paar es el titular exclusivo de la técnica de panorama sincronizado (patente de Estados Unidos US 8261600 y patente europea EP 2065695).

Tiempo rápido de respuesta en pequeñas fuerzas aplicadas

El medidor de nano-rayado NST³ incorpora un cantiléver doble para la aplicación de la carga combinada con un actuador piezoeléctrico para una respuesta ultrarrápida a la carga aplicada. Este concepto también corrige el resultado de las desviaciones causadas por cualquier incidencia producida durante el rayado (por ejemplo, defectos, muestra no lisa o aparición de grietas y fallas).

Sin compromisos: Aplica exactamente la fuerza deseada.

El bucle por retroalimentación de fuerza activa cerrado brinda aún más precisión en la prueba de nano-rayado. El dispositivo de prueba de nano-rayado incorpora un sensor para la medición de la fuerza, que retroalimenta directamente el activador de fuerza normal. Esto garantiza pruebas de rayado reproducibles, incluso cuando investigue geometrías de superficie más complejas (como muestras no paralelas, rugosas o curvadas).

Mediciones patentadas de la profundidad real de penetración para estudios de recuperación elástica

El dispositivo de nano-rayado NST³ incorpora un sensor de desplazamiento real para monitorear el movimiento vertical del indentador. Gracias a este sensor, la técnica única de exploración previa y posterior le permite obtener la verdadera profundidad: por lo tanto podrá evaluar las propiedades elásticas, plásticas y viscoelásticas de los materiales. Esta técnica consiste en un escaneo previo que registra el perfil de la superficie de la muestra (forma, ondulación y rugosidad) antes de realizar la prueba de rayado. Al utilizar el perfil de superficie, el NST³ corrige la profundidad del penetrador durante el rayado (profundidad de penetración) y después del rayado (profundidad residual).

Modo post-escaneado múltiple para medir el comportamiento viscoso después del rayado

Después del rayado, se puede definir un número ilimitado de mediciones post-escaneado en el software con un tiempo delta para medir la profundidad residual. Este nuevo análisis proporciona un conocimiento adicional acerca del comportamiento de deformación de la superficie con respecto al tiempo de recuperación.

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